短波紅外(SWIR)的范圍在900到2500 nm之間，它占據(jù)了近紅外以上的電磁波譜，完全超出了傳統(tǒng)硅基成像傳感器的能力范圍。盡管如此，SWIR波段在機器視覺中的應用越來越多，因為它提供了獨特的檢測、分類和質(zhì)量控制能力，以及環(huán)境光應用，如監(jiān)視和遙感。

由于硅的量子效率在超過800納米后會迅速衰減，所以SWIR傳感器依賴于其他化學成分，如銦鎵砷化物(InGaAs)或碲化汞鎘(MCT)。較新的SWIR成像儀也利用了獨特的傳感器架構(gòu)，如量子點技術(shù)。選擇正確的成像方式取決于應用場景。但所有這些技術(shù)都極大地擴展了可見光傳感器之外的成像能力——不僅通過它們打開的擴展光譜，還通過SWIR光改變熟悉材料表觀特征。

SWIR的波長接近中波紅外(MWIR)光譜，而MCT相機在這一點上更有效，這一光譜區(qū)域具有捕捉物體自身發(fā)射能量的能力。此外，在這個范圍內(nèi)光子的波長相對較長，使得它們不太容易受到由較小直徑粒子引起的瑞利散射。在實際操作中，這意味著SWIR成像儀可以透過煙霧看到物體。

InGaAs傳感器是目前主流的相機技術(shù)，工作在900至1700nm的SWIR范圍內(nèi)。與其他SWIR成像方式相比，它們具有相對成本效益和成熟的特點，這使得它們成為包括檢測、分類和質(zhì)量控制在內(nèi)的機器視覺應用中最常用的技術(shù)。

與可見范圍內(nèi)的硅基探測器一樣，InGaAs傳感器具有較高的探測性能和快速的響應速度，盡管它們的光敏性取決于波長。與針對熱成像應用的SWIR相機不同，InGaAs設(shè)備還可以放棄昂貴的硅或鍺鏡頭，利用傳統(tǒng)的光學玻璃鏡頭。

一般來說，在工業(yè)機器視覺中，針對SWIR應用的InGaAs相機不需要冷卻。然而，在一些應用中，冷卻傳感器可以顯著減少暗電流，從而提高圖像質(zhì)量和延長曝光時間。

較短的SWIR波長——大約從900 nm到1700 nm——在可見范圍內(nèi)表現(xiàn)與光子相似。雖然SWIR中目標的光譜含量不同，但生成的圖像仍然更清晰，不像MWIR和LWIR光帶的低分辨率熱成像。這種優(yōu)勢讓SWIR與許多工業(yè)機器視覺應用的需求更緊密地結(jié)合在一起。

與MWIR和LWIR相比，SWIR較短的波長使圖像具有更高的分辨率和更強的對比度，這兩者都是檢查和分類的重要標準。

此外，雖然SWIR的相機與可見光相機具有相似的光捕獲技術(shù)，但捕獲的圖像看起來與用硅傳感器捕獲的圖像非常不同——即使是成像同一個物體。

一般來說，光和物質(zhì)的任何相互作用都涉及到某種能量的交換。如果電磁能量被轉(zhuǎn)移到組成物體的分子上，物體的表面就會吸收這種能量。否則，能量將被反射。由于每個離散的波長都有其獨特的能量定義，在一個波長下看起來相似的材料在另一個波長會看起來完全不同。

正如前面提到的，SWIR的波長較長，這使得它們與原子結(jié)構(gòu)的相互作用非常不同，這為機器視覺應用提供了一些新的和獨特的成像可能性。平常普通的物體在SWIR光譜中看起來會非常不同，這一現(xiàn)象已經(jīng)實現(xiàn)了許多場景的應用。

雖然硅分子的帶隙導致材料吸收可見光和近紅外波長，例如，硅可以傳輸?shù)湍芰康腟WIR波長，使半導體晶圓在這個光譜范圍內(nèi)透明。這為原材料檢測應用提供了獨特的選擇，如硅片表面和內(nèi)部的成像缺陷。這種SWIR光的質(zhì)量也有利于晶圓鍵合應用，允許通過兩個晶圓的背面看到對齊的基準標記，提高了精度。

SWIR最有前途的機器視覺應用之一是產(chǎn)品的檢測和分類。水在1450 nm和1900 nm波長處都具有很強的吸水性，這使得在這些波長照射的物體的圖像中，水看起來幾乎是黑色的。因此，使用適當?shù)倪^濾器或光源可以幫助使受損的水果、灌溉良好的作物或散裝谷物中的水分含量非常明顯。

濕度檢測的價值并不局限于生產(chǎn)和作物。SWIR成像可以幫助確認染色的紡織品或刨花板是否足夠干燥，以便進一步處理。它還可以檢查密封完整性和包裝的質(zhì)量，特別是如果高濕度的貨物包含在內(nèi)。

塑料由各種不同的聚合物化學組成。雖然它們在可見范圍內(nèi)看起來都很像，但不同的塑料在SWIR光照射下可以很容易地區(qū)分開來。這有助于回收設(shè)施利用SWIR相機從1100nm到2200nm識別不同的聚合物并通過分選輸送機。

【來源：Smart Vision Light】